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HDI四线自动电测机
HDI 4W AET
针对细径走线、微孔 (micro via) 与多层堆栈的 HDI 基板打造，适用于手机、平板、穿戴式装置等高速、高频应用。
核心功能：
•高速量测 – 采用 Flash™ 第三代系统，单点测试在极短时间内完成，让整体测试流程大幅缩短。
•弹性夹爪 – 4–8 颗可换式夹爪，压力可控，微米级定位，保护超薄板材。
•绝缘崩溃侦测 – 高速独立量测机制，提供实时、预警式的 Breakdown 判断，能捕捉高电压层间短路与微细开路。
•AOI 电测一体化 – 内建 AOIn™ 影像引擎，自动对位、快速校正，治具架设时间显著缩短。
适用范围：
•手机、平板、穿戴式装置的多层 HDI 基板
•微型天线、光通讯与高频高速传输线路
•其他需精细四线测试的高密度互连产品
客户效益：
•测试速度快，整流程自动化，缩减测试时间
•微米级定位与稳定夹持，提升测试可靠性
•实时预警，提前捕捉潜在失效
•AOI 电测同步，降低人工成本与治具调整时间
核心功能：
•高速量测 – 采用 Flash™ 第三代系统，单点测试在极短时间内完成，让整体测试流程大幅缩短。
•弹性夹爪 – 4–8 颗可换式夹爪，压力可控，微米级定位，保护超薄板材。
•绝缘崩溃侦测 – 高速独立量测机制，提供实时、预警式的 Breakdown 判断，能捕捉高电压层间短路与微细开路。
•AOI 电测一体化 – 内建 AOIn™ 影像引擎，自动对位、快速校正，治具架设时间显著缩短。
适用范围：
•手机、平板、穿戴式装置的多层 HDI 基板
•微型天线、光通讯与高频高速传输线路
•其他需精细四线测试的高密度互连产品
客户效益：
•测试速度快，整流程自动化，缩减测试时间
•微米级定位与稳定夹持，提升测试可靠性
•实时预警，提前捕捉潜在失效
•AOI 电测同步，降低人工成本与治具调整时间
